Relais Reed Série C
La série C est un relais reed CMS compact à haute densité, conçu pour la commutation de signaux haute fréquence dans des applications où l’espace est limité. Avec un excellent blindage interne et des performances RF jusqu’à 7 GHz, la série C offre une réduction de 10 % de la taille par rapport à des modèles similaires, sans compromettre la fiabilité ni l’intégrité du signal.
Disponible en configurations SPST-NO (Form A), la série C prend en charge des tensions de bobine de 3,3 VDC et 5 VDC, et est donnée pour jusqu’à 10 W, 100 VDC et 0,5 A. Son design à profil bas avec pattes J-lead la rend idéale pour l’assemblage automatisé et les implantations de PCB à haute densité dans les systèmes RF, de télécommunications et de test. Avec une longue durée de vie en fonctionnement et des performances constantes, la série C est une solution de confiance pour les applications exigeantes à haute vitesse.
- Capacité de commutation RF jusqu’à 7 GHz (standard 5 GHz)
- Conception compacte à montage en surface avec une empreinte 10 % plus petite que les modèles comparables
- Excellente protection interne pour réduire les interférences de signal
- Configuration de contact SPST-NO (Form A)
- Conçu pour 10 W, 100 VDC et 0,5 A
- Options de tension de bobine : 3,3 VDC et 5 VDC
- Boîtier à broches en J pour un montage en surface haute densité
- Longue durée de vie du produit et performances stables en environnements RF
- Conforme RoHS pour les normes environnementales mondiales
| Tension de la bobine (VDC) | 3.3, 5 |
| Résistance de la bobine (Ω) max. | 150 |
| Configuration des contacts | 1A (SPST) Normalement ouvert (N.O.) |
| Puissance nominale max. | 10W/100VDC/0.5A |
| Perte d’insertion – point d’atténuation de -3 dB (GHz) | ~ 5 GHz (option 7 GHz) |
| Durée de vie (à 1 V 10 mA) | > 300 millions de cycles de commutation |
- Équipement de test automatisé (ATE) : Commutation de signaux haute fréquence dans les cartes de charge
- Télécommunications :Acheminement RF dans des modules réseau compacts
- Communications sans fil : Intégrité du signal dans les systèmes à haute vitesse
- Systèmes de test fonctionnel de PCB :Commutation fiable dans des matrices de test denses
- Systèmes d’acquisition de données :Contrôle précis des signaux dans une instrumentation compacte
- Test sur wafer de CI : Commutation de relais à haute vitesse dans des configurations de test de semi-conducteurs